長平晶，用光學玻璃或石英玻璃制造，主要用于以等傾干涉法檢定研磨平尺的平面度。光學測量平面是表面粗糙度數值和平面度誤差都極小的玻璃平面，它能夠產生光波干涉條紋。
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規格 |
平面度（um） |
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工作長度內 |
橫向內（40mm） |
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210 |
-0.3~0 |
0.1 |
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310 |
-0.45~-0.15 |
0.1 |
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